中央大学（理工学部 竹内健教授）は13日、ソリッド・ステート・ドライブ（SSD）のエラーを80％低減する技術を開発したことを発表した。SSDによる100年以上の長期データ記憶が可能になるという。フラッシュメモリは、HDDや光ディスクなどの記憶媒体と比べて、高速・低電力という利点があるが、メモリセルに蓄えた電子がリークすることで記憶したデータが失われ、エラーが発生するという問題があった。
http://www.rbbtoday.com/article/2014/06/13/120832.html
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